L'érosion de la cathode dans les décharges luminescentes

La pulvérisation de la couche d'oxyde de magnésium (MgO) est un facteur limitant la durée de vie des dispositifs à décharge luminescente. Les travaux menés au cours de cette thèse ont pour objectif d'augmenter la durée de vie et d'améliorer l'efficacité lumineuse des dispositifs à décharge luminescente et plus particulièrement les panneaux à plasma (PAP). Nous visons à travers cette étude, à simuler l'érosion et les autres processus physiques qui se produisent dans la couche protectrice lors de l'interaction plasma-surface. Pour compléter le modèle Monte Carlo SRIM (Stopping and Range of Ions in Matter), les énergies de liaison desurface sont déduites d'après une comparaison entre nos résultats obtenus et ceux de l'expérience. Nous avons ensuite utilisé ces énergies comme paramètres d'entrée pour réaliser des études plus raffinées. Afin de diminuer le taux de pulvérisation de la couche mince de MgO en fonction de l'énergie d'impact et de l'angle d'incidence, nous nous sommes intéressés à l'utilisation de différentes stratégies axées sur l'optimisation de la couche protectrice.